一、半導體芯片冷熱沖擊試驗箱特性：

1.分為高溫室、低溫室、測試室三部分，采用斷熱結構及蓄熱蓄冷效果，試驗時待測物靜止，應用冷熱風路切換方式將冷、熱溫度導入測試區(qū)實現冷熱沖擊測試目的；

2.采用人機介面觸控式液晶顯示控制器，中、英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設定程序曲線；

3.可獨立設定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件的功能，具備高低溫試驗機的功能；

4.具備全自動，高精密系統(tǒng)回路、任一機件動作，有PLC鎖定處理，全部采用PID自動演算控制，溫度控制精度高；

5.空氣流通循環(huán)設計，使室內溫度均勻，避免任何死角。可設定循環(huán)次數及除霜次數自動（手動）除霜；

6.出風口與回風口感知器檢測控制，閥門開啟時間5秒鐘內完成，冷熱沖擊溫度恢復時間5分鐘內完成；

7.冷凍系統(tǒng)采用二元低溫回路系統(tǒng)設計，使用歐美壓縮機和臭氧系數為零的綠色環(huán)保制冷劑R507、R23；

8.周全的安全保護裝置，發(fā)生任何故障時，均會立即由屏幕顯示故障狀態(tài)及切斷電源，確保機器本身，被測產品及使用者安全。

二、半導體芯片冷熱沖擊試驗箱技術參數

保養(yǎng)方法

1.冷凍機組之冷凝器 (散熱器)應定期保養(yǎng),保持清潔?；覊m粘糊冷凝器會使壓縮機高壓開關跳脫而產生誤報警，冷凝器應定期每月保養(yǎng),利用吸塵器將冷凝器散熱網片上附著之其塵吸除或開機后使用質硬的毛刷刷之或用高壓氣嘴吹干凈灰塵。

2.開關門或從爐內取測試物時，不得讓物品與門上膠邊接觸，以防膠邊被破壞和縮短壽命。

3.機身周圍和底部的地面要隨時保持清潔，以免大量灰塵吸入機組內產生意外事故和降低性能。

4.冷凍系統(tǒng)是本機的核心，請半年巡檢一次所有銅管有無泄漏雪種情況，各嗽叭接頭、焊接口，如有油漬外泄，請通知本公司或直接處理之。

5.配電盤之大電流接點，配電室內每年至少清潔檢修一次以上，接點的松動會使整個設備處于危險工作狀態(tài)，輕則燒壞組件，重則發(fā)生火災、報警、人身傷害非常危險.清潔時清利用吸塵器將室內灰塵吸除即可。

6.配電箱內的兩個超溫保護器設定值請不要隨便調試，出廠時已調好，此保護開關是保護加熱管空焚和警報之用.設定點＝溫度設定點＋20℃～30℃。

7.當試驗產品時間到達后取產品時，必須在關機狀態(tài)下且工作人員一定要戴好干燥、防電、耐溫手套進行取放產品.

8.箱體內外部的清潔與保養(yǎng)。

9.機器在操作前應先將內部雜質(物)清除。

10.配電室內每年至少清潔一次以上,清潔時請利用吸塵器將室內灰塵吸除即可。箱體外部每年必須清洗一次以上,清洗時用肥皂水擦拭即可。